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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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EXPEC 2000 (规格:MIMS)全自动膜进样质谱仪
产品概述EXPEC 2000 (规格:MIMS)全自动膜进样质谱仪是一款对挥发性有机物快速分析的移动监测设备。该设备采用创新的膜进样技术,完成直接进样质谱分析,实现对未知化合物的秒级响应。整机采用
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EXPEC 3500(规格 MIMS)移动式膜进样质谱仪
产品概述EXPEC 3500(规格 MIMS)移动式膜进样质谱仪是一款对挥发性有机物快速分析检测的便携式设备。该设备采用独特的膜进样技术,完成直接进样质谱分析,实现对未知化合物的秒级响应。整机
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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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膜厚测量仪FE-300
化法解析、*小二乗法解析 选配功能 材料评价软件、薄膜模型解析软件、标准片解析 *1 细规格请咨询 *2 相对于VLSI 公司产膜厚标准(100nm
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膜厚测量仪FE-3
稳定性白色LED光源测量项目多层膜膜厚解析用途光学薄膜(硬涂层,AR膜,ITO等)FPD相关(resist,SOI,SiO2等)膜厚量测仪FE-3测试实例
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
透射能谱等广泛的科学研究领域,例如,X-射线(上海光源透射成像/能谱线站)、TEM、SEM、IR、UV等。 现在SHNTI可以提供X-射线显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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国产膜厚检测台阶仪
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